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X射線(xiàn)衍射技術(shù)在藥物分析中有著廣泛的應(yīng)用。X射線(xiàn)衍射技術(shù)是一種用于研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析方法，它通過(guò)測(cè)量X射線(xiàn)在晶體中的衍射角度，來(lái)確定晶體的結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在藥物分析中具有很多應(yīng)用。自藥典和法規(guī)對(duì)涉及藥物晶型研究相關(guān)的問(wèn)題時(shí)，X射線(xiàn)衍射技術(shù)在藥物分析中的應(yīng)用開(kāi)始增加，為藥物研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供重要的技術(shù)支持。常見(jiàn)的有下面幾種。藥物API晶型分析藥物雜質(zhì)分析（堿式碳酸鑭雜質(zhì)定量）結(jié)晶度分析原位分析在藥物成分鑒定、藥物合成監(jiān)測(cè)、藥物制劑分析、藥物與生物分子相互作用研究、藥物溶解度...

許多壽命測(cè)量方法，如QSSPC、μPCD或CDI，以及MDP在極低的注入濃度下都存在異常高的測(cè)量壽命。這種效應(yīng)是由于樣品中的捕獲中心造成的。這些捕獲中心對(duì)于了解材料中載流子的行為非常重要，并且也會(huì)對(duì)太陽(yáng)能電池產(chǎn)生影響。因此，需要以高分辨率來(lái)測(cè)量缺陷密度和這些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot，可以通過(guò)一次測(cè)量來(lái)測(cè)量光電導(dǎo)率以及少數(shù)載流子壽命，并在寬注入范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。巧妙的算法可以確定樣品中的缺陷濃度。根據(jù)注入相關(guān)壽命曲線(xiàn)，可以確定低注入下的壽命τLL...

鋰離子電池，由于其具有高能量密度和體積能量密度，循環(huán)壽命長(zhǎng)，無(wú)記憶效應(yīng)等優(yōu)點(diǎn)，越來(lái)越受到市場(chǎng)和消費(fèi)者的青睞，這也推動(dòng)了鋰離子電池的快速發(fā)展和針對(duì)其研究的不斷深入。XRM憑借著其能在無(wú)損情況下表征樣品真實(shí)三維結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，在近些年逐漸成為鋰電池研究中的重要表征手段之一，且應(yīng)用范圍也在不斷擴(kuò)展。實(shí)例一軟包電池多尺度表征BrukerSkyscan2214樣品整體掃描，11um局部高分辨掃描，正極，1um局部高分辨掃描，隔膜，0.15um電池正極顆粒粒徑分布（左圖）及孔徑分布（右圖）實(shí)...

藥物大部分以晶體的形式存在，利用X射線(xiàn)衍射，我們可以獲得每種不同的晶型的藥物特征的衍射信息。如同指紋一樣，在數(shù)據(jù)庫(kù)中每種晶型都有特征的衍射圖譜。即使對(duì)于含有多成分的固體制劑而言，其中原料藥與輔料各自對(duì)應(yīng)的粉末X射線(xiàn)衍射圖譜不會(huì)發(fā)生變化，可作為藥物晶型定性判斷的依據(jù)。因而對(duì)于未知的藥物樣品，通過(guò)PXRD，我們可以很快通過(guò)比對(duì)實(shí)測(cè)圖中的衍射峰的位置，強(qiáng)度，從已有數(shù)據(jù)庫(kù)中查到原料藥的晶體結(jié)構(gòu)相匹配的衍射圖譜，從而準(zhǔn)確鑒定該藥物的晶型。PXRD對(duì)于藥物晶型的定性研究主要分為兩個(gè)方面：...

局域結(jié)構(gòu)是指構(gòu)成材料的原子或離子在幾個(gè)晶胞尺度范圍內(nèi)（具體來(lái)說(shuō)，使用X射線(xiàn)等探針對(duì)目標(biāo)樣品進(jìn)行散射實(shí)驗(yàn)后，獲得的信號(hào)強(qiáng)度I隨Q的分布函數(shù)I（Q）（Q=4πsinθ/λ）中同時(shí)包含了相干散射、非相干散射以及背景信號(hào)，扣除背景后按照下式進(jìn)行處理從而獲得全散射函數(shù)S(Q)：而后，對(duì)S(Q)-1以Q為權(quán)重處理后（即Q[S(Q)-1]，也被稱(chēng)作F(Q)），再進(jìn)行傅里葉變換，即可得到對(duì)分布函數(shù)G(r)：對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的材料，其原子對(duì)的分布規(guī)律也各不相同，圖1展示了立方堆積和六方堆積的G(r...

1925年P(guān)ierreAuger在威爾遜云室中發(fā)現(xiàn)了俄歇電子，并進(jìn)行了理論解釋?zhuān)硇娮右运拿置?953年，JamesJosephLander使用了電子束激發(fā)俄歇電子能譜，并探討了俄歇效應(yīng)應(yīng)用于表面分析的可能性。1967年LarryHarris提出了微分處理來(lái)增強(qiáng)AES譜圖信號(hào)。美國(guó)明尼蘇達(dá)大學(xué)的RolandWeber,PaulPalmberg和他們的導(dǎo)師BillPeria進(jìn)行的研究揭示了俄歇電子能譜的表面靈敏特性，研制了早期商用俄歇表面分析儀器（如圖1所示），并基于...

晶圓片在線(xiàn)面掃檢測(cè)儀是一種用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度設(shè)備，通過(guò)實(shí)時(shí)檢測(cè)和分析晶圓片表面的缺陷和污染物，提高半導(dǎo)體生產(chǎn)質(zhì)量。作為半導(dǎo)體制造過(guò)程的重要環(huán)節(jié)，在線(xiàn)面掃檢測(cè)儀能夠提供高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)和分析，幫助半導(dǎo)體工廠及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決潛在問(wèn)題，保證產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。該在線(xiàn)面掃檢測(cè)儀利用高分辨率的光學(xué)傳感器和圖像處理技術(shù)，能夠?qū)A片表面進(jìn)行快速、全面的檢測(cè)。它能夠檢測(cè)并分類(lèi)各種缺陷和污染物，如劃痕、斑點(diǎn)、氣泡、污染和裂紋等，提供精確的位置和尺寸信息。通過(guò)分析采集到的圖像和數(shù)據(jù)，在線(xiàn)面掃檢...

高分辨率X射線(xiàn)衍射(HRXRD)是一種強(qiáng)大的無(wú)損檢測(cè)方法，其研究對(duì)象主要是單晶材料、單晶外延薄膜材料以及各種低維半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)。普遍用于單晶質(zhì)量、外延薄膜的厚度、組分、晶胞參數(shù)、缺陷、失配、弛豫、應(yīng)力等結(jié)構(gòu)參數(shù)的測(cè)試。現(xiàn)代HRXRD與常規(guī)XRD的區(qū)別主要體現(xiàn)在：（1）高度平行且高度單色的高質(zhì)量X射線(xiàn)；（2）不僅要測(cè)試倒易格點(diǎn)的位置（角度），還要測(cè)試倒易格點(diǎn)的形狀（缺陷）；（3）更高的理論要求-動(dòng)力學(xué)理論。GaN做第三代半導(dǎo)體，目前用于電力電子、高頻器件和發(fā)光二極管(LED)技...