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產(chǎn)品中心場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM檢測(cè)
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產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測(cè)
項(xiàng)目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說明 |
僅形貌觀察 | 每個(gè)樣品*20min，超出時(shí)間將按照每20min一個(gè)樣計(jì)算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測(cè)試 | EDS元素分析/分布包括：點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）；線分析；面分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個(gè)樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括； 點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）； 線分析；面分析； | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費(fèi)面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺(tái)、熱臺(tái)、WetSTEM原位觀察 | 需要設(shè)計(jì)試驗(yàn)方案，價(jià)格面議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測(cè)
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力，可選配備多種探測(cè)器，以滿足顆粒物、納米結(jié)構(gòu)、薄膜樣品等各種不同的應(yīng)用需求。EDS幾何設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)高性能的元素分析，無論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的分析結(jié)果。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]1. 靈活的探測(cè)手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴(kuò)展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設(shè)計(jì)-提升光學(xué)性能的同時(shí)，降低靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。
▲樣品直徑達(dá)300mm?！捎^察范圍直徑達(dá)203mm?！蓪?duì)高達(dá)110mm的樣品進(jìn)行觀察和能譜分析?！ㄓ眯徒涌诓季譂M足各種分析用途。
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